旺矽科技先進半導體測試部門實現高達110 GHz的可追溯射頻校準突破

德國布倫瑞克2024年1月25日 /美通社/ — 作為晶圓級測試解決方案的先驅，旺矽科技股份有限公司 (MPI Corporation) 的先進半導體測試 (AST) 部門今天宣佈在射頻校準技術方面取得一項重大成果。該部門與德國聯邦物理技術研究院 (PTB) 合作，在表徵高達110 GHz的商用校正片方面成功實現了完全可追溯性，樹立了新的產業標桿。

這項在先進半導體測試部門射頻技術處長Andrej Rumiantsev博士帶領下取得的成果，代表著MPI整個射頻產品線的重大飛躍。完全可追溯的特徵為更準確、可靠和被普遍接受的高頻量測鋪路，這對於5G等尖端技術至關重要。

Rumiantsev博士表示：「在如此高的頻率下實現射頻校準的完全可追溯性證明了我們對精度和品質的重視。這項突破是我們與PTB長期合作的成果。這不僅是旺矽先進半導體測試部門的進步，也是整個微波量測學界、半導體和電信行業的重大進步。」

德國PTB晶圓級散射參數部門負責人Uwe Arz博士表示：「制定晶圓級射頻系統校準的國家標準是PTB多年來一直努力實現的目標。我們很自豪地宣佈將溯源鏈轉讓給MPI的商用校正片，這在業界內實屬首次。」

旺矽先進半導體測試部門的最新成果突顯了其是半導體測試產業的領導者，有望在高頻測試領域開闢新路徑，並鞏固其市場領先地位。

如需了解更多資訊，請參閱：

• 全球首批晶圓級量測校準證書 – PTB.de
• 商用校正片上高達110 GHz的可追溯集總元件校準 | IEEE Conference Publication | IEEE Xplore

關於旺矽科技

旺矽科技股份有限公司（MPI Corporation）於1995 年7 月創立於臺灣新竹，是全球領先的測試方案設計及製造商，秉持以客戶為導向的核心經營理念，致力於開發前瞻量測技術，為半導體、LED、PD、雷射、材料研究、航太（航天）、汽車、光纖、電子元件等產業客戶量身打造解決方案，旗下設有五大營運事業群，分別為：探針卡測試、光電元件自動化測試、先進半導體測試、高低溫測試、及Celadon 高性能探針卡工程測試。

旺矽自主開發、生產及銷售廣泛的測試服務及產品，包括先進的探針卡技術、量產及研發用點測設備及光電量測系統、晶圓分選及AVI 設備、及溫度測試系統等，包含配備先進的量測軟體，提供多樣化產品組合和業界領先的關鍵技術。藉由技術與人才的跨領域交流，營造良好的員工成長環境、提升客戶競爭力為主要目標，於技術上不斷研發創新，提供客戶最佳測試解決方案，以創造客戶價值為我們的職志。

旺矽科技為臺灣第一家於證券櫃檯買賣中心（TPEx）上櫃的探針卡公司。

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