為幫助資賦優異學生找到個別優勢與天賦,提供適性教育,臺北市政府教育局每年定期辦理國小一般智能資賦優異學生鑑定,114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定報名作業自10月9日起10月15日中午12時止在「臺北市國民小學一般智能資優學生鑑定安置系統」(https://www.gtide.tp.edu.tw)開放線上報名,並請務必於當天下午4時前將網路報名之相關資料自行下載列印繳交至就讀學校導師/特教組,請欲參與鑑定之學生及家長特別注意鑑定報名時程。

通過一般智能資賦優異鑑定之學生,後續將安置於一般智能資優資源班或特殊教育方案。資優教育之課程規劃,將視學生興趣及個別需求,提供充實、多元領域的課程活動,如獨立(專題)研究課程、運用社區資源進行參訪等,鼓勵資優學生主動探索感興趣的議題,透過個別化指導學生探究與實作,增進其概念與知識,激發內在動機,養成自主學習的習慣,培養面對未知問題的能力,展現學生多元優勢才能。

教育局提醒家長,去年報名參加鑑定學生共有5,057位,通過學生計593名。當家長準備替子女報名參與鑑定時,請務必詳細閱讀「臺北市114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置宣導相關資料」(網址:[連結])及「臺北市114學年度國民小學一般智能資賦優異學生鑑定安置計畫」(網址:[連結]),請參考計畫中「一般智能資賦優異學生鑑定觀察推薦表」,檢核孩子的特質,適當觀察推薦及確認是否報名。若有任何問題,皆可逕洽學校特教組,以獲得相關訊息。

新聞來源:享新聞